Drive
UH110-UFD7
- 采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND SLC-liteX 技术，提升可靠度
- 全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
- 闪存坏区管理
- 4K Page Mapping
- 断电管理
- S.M.A.R.T.功能
- 支持SMART Read Refresh™ 技术
- SLC-liteX 技术
工业级USB：UH110-UFD7
Apacer 宇瞻科技 UH110-UFD7 是新一代 Type-C 工业级USB随身碟，符合新一代USB 3.2 Gen1 (SuperSpeed) 规范，最高传输速率达 5 Gbps，提供270 MB/s 疾佳效能与超低耗能，且向下兼容于USB 2.0 和 USB 1.1接口。
UH110-UFD7 采用3D NAND闪存，最大支持容量达64GB，具备优于2D NAND的省电效率，是取代传统IDE硬盘的最佳选择之一。UH110-UFD7 不仅搭载先进的LDPC (Low Density Parity Check) ECC 引擎，有效提升SSD耐用度与数据可靠度；更采用Apacer SLC-liteX技术，提供高达30,000次写入/抹除次数(P/E cycles)的优异表现。此外，UH110-UFD7 采用全新的Page Mapping 闪存管理技术，并具有各种实用功能，包括强大的硬件ECC引擎、平均抹写技术(Wear Leveling)、闪存坏区管理、S.M.A.R.T.、断电管理与Smart Read Refresh™技术。
经过严苛产品测试，搭载体积精巧、轻薄时尚的Type-C 接口接头，UH110-UFD7 可为便携设备与多元的新世代Type-C 应用，提供疾佳的工业级USB产品选择。
规格
OPEN- 型号 UH110-UFD7
- 介面 USB 3.2 Gen1
- 接头 USB Type C Plug
- 板型 USB flash drive
- NAND 颗粒 3D TLC
- 容量 32GB~64GB
- 外接DRAM No
- 读取速度(MB/sec) Up to 270
- 写入速度(MB/sec) Up to 195
- ECC侦错功能 Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
- IOPS (4K 随机写入) 1200
- 标准作业温度(°C) 0 ~ + 70
- 最高作业温度(°C) -40 ~ + 85
- 储存温度(°C) -55 ~ 100
- Housing Yes
- H/W Write Protect No
-
冲击耐力
Operation: 50G/11ms
(compliant with MIL-STD-202G)
Non-operation: 1500G/0.5ms
(compliant with MIL-STD-883K) -
震动耐力
Operation: 7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Non-operation: 4.02 Grms, 15~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G) - 电压 5.0 V ± 5%
- 用电量" Active mode: 195 mA; Idle mode: 85 mA
- 尺寸 43.00 x 18.90 x 7.90 (mm)
- MTBF (小时) >3,000,000
- 技术特点 Page Mapping / SLC-liteX / S.M.A.R.T. / Smart Read Refresh™ / 宽温 (Wide Temperature) / 温度冲击试验技术 (Thermal Cycling)
- 应用 博弈游戏 / 医疗照护 / Internet of Things物联网 / 服务器与网通 / 交通运输